一、檢測內容及要求
檢測內容：
產品的外觀檢測
| 序號 | 檢測位置 | 檢測方式 | 是否可檢 |
| 1 | 斷頭、黑點、缺片。毛刺 | 60°環形正光檢測 | 可檢 |
| 2 | 尺寸 | 背光檢測 | 可撿 |
注明：以上檢測項目，均需在影像下清晰可見才能檢測。
檢測效率：每分鐘檢測數量 不低于200件(取決于產品送料速度)。
樣品圖：
二、設備組成及主要機構
設備型號：SP-T300標準檢測設備 外形尺寸：900*800*1850mm
組成部件清單：
| 序號 | 部件名稱 | 規格型號 | 數量 |
| 1 | 視覺檢測軟件 | SIPOTEK | 1套 |
| 2 | 工業電腦 | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 3 | 顯示器 | PHILIPS 19”液晶顯示器 | 1臺 |
| 4 | 工業相機 | Barsler工業相機 | 5套 |
| 5 | 相機調節模組 | SIPOTEK定制 | 5套 |
| 6 | 工業鏡頭 | 遠心高清光學工業鏡頭 | 5套 |
| 8 | 光源 | 定制光學自適應光源 | 5套 |
| 8 | 檢測平臺 | 專業光學玻璃載臺 | 1套 |
| 9 | 伺服電機 | 松下·PANASONIC | 1套 |
| 9 | 控制系統 | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 11 | PLC運動協作 | 松下·PANASONIC | 1套 |
自動化光學檢測設備外觀3D立體圖
三、樣件測試圖片:
1.頂部背光檢測原圖：
頂部背光檢測良品分析圖：OK
頂部正光檢測原圖：
頂部正光檢測良品分析圖：OK
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：缺片 分析結果：可檢
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：黑點 分析結果：可檢
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：斷頭 分析結果：可檢
底部正光檢測原圖：
底部正光檢測良品分析圖：OK
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：黑點 分析結果：可檢
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：斷頭 分析結果：可檢
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：缺片 分析結果：可檢
側面正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：黑點 分析結果：可檢
