一、檢測內容及要求
檢測內容：
最大尺寸長21.35mm*寬1.57mm的產品的尺寸檢測
| 序號 | 檢測位置 | 檢測方式 | 是否可檢 |
| 1 | 麻點 | 正光檢測 | 可檢 |
| 2 | 缺損 | 正光檢測 | 可檢 |
| 3 | 裂紋 | 正光檢測 | 可檢 |
注明：磁性材料光學視覺檢測設備檢測磁瓦外觀，均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率：每分鐘檢測數量 不低于180件(取決于產品送料速度)。
二、設備組成及主要機構
設備型號：SP-T300標定制機 外形尺寸：900*800*1850mm
組成部件清單：
| 序號 | 部件名稱 | 規格型號 | 數量 |
| 1 | 視覺檢測軟件 | SIPOTEK | 1套 |
| 2 | 工業電腦 | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 3 | 顯示器 | PHILIPS 19”液晶顯示器 | 1臺 |
| 4 | 工業相機 | Barsler工業相機 | 6套 |
| 5 | 相機調節模組 | SIPOTEK定制 | 6套 |
| 6 | 工業鏡頭 | FA高清光學工業鏡頭 | 6套 |
| 7 | 光源 | 定制光學自適應光源 | 6套 |
| 8 | 檢測平臺 | 專業光學玻璃載臺 | 1套 |
| 9 | 伺服電機 | 松下·PANASONIC | 1套 |
| 10 | 控制系統 | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 11 | PLC運動協作 | 松下·PANASONIC | 1套 |
設備外觀3D立體圖
樣件測試圖片:
底部正光檢測原圖：
底部正光檢測良品分析圖：OK
底部正光檢測分析圖： NG 不良原因：缺損
底部正光檢測分析圖： NG 不良原因：裂紋
底部正光檢測分析圖： NG 不良原因：缺損
頂部正光檢測良品分析圖：OK
頂部正光檢測分析圖： NG 不良原因：麻點
頂部正光檢測分析圖： NG 不良原因：麻點
頂部正光檢測分析圖： NG 不良原因：麻點
頂部正光檢測分析圖： NG 不良原因：缺損
側面正光檢測良品分析圖：OK
側面正光檢測分析圖：NG 不良原因：缺損
側面正光檢測分析圖：NG 不良原因：裂紋
側面正光檢測分析圖：NG 不良原因：裂紋
側面正光檢測良品分析圖：OK
側面正光檢測分析圖：NG 不良原因：裂紋
側面正光檢測分析圖：NG 不良原因：缺損
側面正光檢測良品分析圖：OK
側面正光檢測分析圖：NG 不良原因：裂紋
側面正光檢測良品分析圖：OK
側面正光檢測分析圖：NG 不良原因：缺損
四、磁性材料光學視覺檢測設備安裝要求:
設備放置的檢測空間: 立體式設備檢測機臺配置檢測軟件和所需相機光源，需要保證有足夠的空間以安裝設備。
環境溫度： 0-50攝氏度；
空氣濕度： 90% RH以下；
電子干擾： 為設備提供電子干擾較小的地方。
電源： 交流220V，50Hz， 耗電＜1KVA。
